Фокус на спектральном зондировании и оптоэлектронных прикладных системах
LIBS (лазерная спектроскопия разрушения) - это сложная аналитическая методика, которая включает использование ультракоротких импульсных лазеров для фокусировки на поверхности образца, создавая плазму. Эта плазма, высокоэнергетическая форма материи, излучает свет, характерный для элементов, присутствующих в образце. Анализируя этот спектр излучаемого света спектрометром, системы LIBS могут идентифицировать элементный состав образца. Этот процесс позволяет идентифицировать, классифицировать, качественный и количественный анализ материалов.
LIBS (лазерная спектроскопия разрушения) - это сложная аналитическая методика, которая включает использование ультракоротких импульсных лазеров для фокусировки на поверхности образца, создавая плазму. Эта плазма, высокоэнергетическая форма материи, излучает свет, характерный для элементов, присутствующих в образце. Анализируя этот спектр излучаемого света спектрометром, системы LIBS могут идентифицировать элементный состав образца. Этот процесс позволяет идентифицировать, классифицировать, качественный и количественный анализ материалов.

Система iSpec-LIBS400 Split-Type LIBS (лазерно-индуцированная спектроскопия разрушения) представляет собой универсальную и сложную сборку, предназначенную для научных исследований, экспериментов с оптическими приложениями и оптических центров применения. Конструкция этой системы особенно гибкая благодаря ее конфигурации сплит-типа, что позволяет пользователям удобно выбирать и настраивать различные лазеры и спектрометры в соответствии с конкретными потребностями.


Принцип применения LIBS
Основное приложение
●Анализ качества угля и продуктов сгорания
● Анализ компонентов онлайн в металлургической промышленности
● Разведка полезных ископаемых: онлайн-анализ качества руды
● Анализ тяжелых металлов почвы, биоматериалы, аэрозоли, наночастицы
● Ядерные материалы, отходы, нефтепродукты
● Строительные материалы, археология, литье, тестирование золота и ювелирных изделий
Пределы обнаружения LIBS во многом зависят от типа анализируемого образца, измеряемых конкретных элементов и конфигурации лазера / спектрометра в приборе. Как правило, LIBS может достигать пределов обнаружения в диапазоне от нескольких частей на миллион (ppm) до процентных уровней. Для большинства элементов в обычных приложениях предел обнаружения может составлять от 10 ppm до 100 ppm. В количественном анализе относительное стандартное отклонение измерений, полученных с помощью LIBS, может находиться в пределах 3-5% для большинства материалов и даже менее 1% для гомогенных материалов.
Типичные пределы обнаружения с LIBS
● Элементы, такие как Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca: > 10 ppm (0,001%)
● Такие элементы, как Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo: > 100 ppm (0,01%)
● Элементы, такие как C, N, O, P, Si: > 200 ppm (0,02%)
● Элементы, такие как F, Cl, Br, S: > 0,5%


Система iSpec-LIBS400 Split-Type LIBS (лазерно-индуцированная спектроскопия разрушения) представляет собой универсальную и сложную сборку, предназначенную для научных исследований, экспериментов с оптическими приложениями и оптических центров применения. Конструкция этой системы особенно гибкая благодаря ее конфигурации сплит-типа, что позволяет пользователям удобно выбирать и настраивать различные лазеры и спектрометры в соответствии с конкретными потребностями.


Принцип применения LIBS
Основное приложение
●Анализ качества угля и продуктов сгорания
● Анализ компонентов онлайн в металлургической промышленности
● Разведка полезных ископаемых: онлайн-анализ качества руды
● Анализ тяжелых металлов почвы, биоматериалы, аэрозоли, наночастицы
● Ядерные материалы, отходы, нефтепродукты
● Строительные материалы, археология, литье, тестирование золота и ювелирных изделий
Пределы обнаружения LIBS во многом зависят от типа анализируемого образца, измеряемых конкретных элементов и конфигурации лазера / спектрометра в приборе. Как правило, LIBS может достигать пределов обнаружения в диапазоне от нескольких частей на миллион (ppm) до процентных уровней. Для большинства элементов в обычных приложениях предел обнаружения может составлять от 10 ppm до 100 ppm. В количественном анализе относительное стандартное отклонение измерений, полученных с помощью LIBS, может находиться в пределах 3-5% для большинства материалов и даже менее 1% для гомогенных материалов.
Типичные пределы обнаружения с LIBS
● Элементы, такие как Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca: > 10 ppm (0,001%)
● Такие элементы, как Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo: > 100 ppm (0,01%)
● Элементы, такие как C, N, O, P, Si: > 200 ppm (0,02%)
● Элементы, такие как F, Cl, Br, S: > 0,5%

Особенности и преимущества продукта
● Широкий спектр анализа элементов: способен анализировать легкие элементы (например, C, H, O, N, Li, Be, B) и тяжелые элементы, включая почти все металлы и неметаллы.
● Интегрированная система LIBS: включает в себя лазер, спектрометр, оптическую систему сбора LIBS, этап 3D-образца со связанной системой управления и систему визуализации с двумя камерами.
● Интеллектуальное программное обеспечение для сбора и анализа спектральных данных: для сопоставления пиков, онлайн-прогнозирования концентрации элементов и моделирования количественного анализа (метод пиковой высоты, метод пиковой площади и т. Д.).
● Быстрое время анализа: от нескольких секунд до минут.
● Минимальная подготовка образцов: анализирует твердые образцы, даже порошки (или связующие или клеи).
● Экологичный и безопасный: не требуются реагенты для реакции.
● Микроскопический макроскопический анализ: направленный и гибкий точечный анализ.
● Качественный и количественный анализ: классификация проб и элементарная концентрация.
● Несколько вариантов лазера и зонда: для удовлетворения различных потребностей.
● Пределы обнаружения: большинство элементов имеют пределы обнаружения в диапазоне от 10 ppm до нескольких десятков ppm.
Особенности и преимущества продукта
● Широкий спектр анализа элементов: способен анализировать легкие элементы (например, C, H, O, N, Li, Be, B) и тяжелые элементы, включая почти все металлы и неметаллы.
● Интегрированная система LIBS: включает в себя лазер, спектрометр, оптическую систему сбора LIBS, этап 3D-образца со связанной системой управления и систему визуализации с двумя камерами.
● Интеллектуальное программное обеспечение для сбора и анализа спектральных данных: для сопоставления пиков, онлайн-прогнозирования концентрации элементов и моделирования количественного анализа (метод пиковой высоты, метод пиковой площади и т. Д.).
● Быстрое время анализа: от нескольких секунд до минут.
● Минимальная подготовка образцов: анализирует твердые образцы, даже порошки (или связующие или клеи).
● Экологичный и безопасный: не требуются реагенты для реакции.
● Микроскопический макроскопический анализ: направленный и гибкий точечный анализ.
● Качественный и количественный анализ: классификация проб и элементарная концентрация.
● Несколько вариантов лазера и зонда: для удовлетворения различных потребностей.
● Пределы обнаружения: большинство элементов имеют пределы обнаружения в диапазоне от 10 ppm до нескольких десятков ppm.
Опубликовано Рабочее
Опубликовано Рабочее
Основные технические показатели
Модель |
iSpec-LIBS400 |
Диапазон измерения элемента |
Способен анализировать элементы с атомными номерами Z ≥ 1, включая органические элементы, такие как углерод (C), водород (H), кислород (O), и легкие элементы, такие как азот (N), литий (Li), бериллий (Be), бор (B), а также почти все металлы и неметаллы. |
Диапазон концентраций |
От 10 частей на миллион (ppm) до процентных уровней, в зависимости от элемента и конфигурации инструмента. |
Время анализа |
<30С |
Тип анализа |
Как качественный (выявление того, какие элементы присутствуют), так и количественный (определение концентрации каждого элемента) анализ. |
Спектрометр |
Четырехканальный спектрометр с диапазоном длин волн л = 190 -820 нм и разрешение 0,2 нм. |
Восьмиканальный спектрометр с диапазоном длин волн л = 190- 1070нм и разрешение 0,1 нм. |
|
Лазер |
Nd-YAG лазер с вариантами длины волны 266 нм при 50 мДж на импульс или длиной волны 1064 нм при 100-200 мДж на импульс, частотой 10 Гц, шириной импульса 5-10 нс, оснащенный системой водяного охлаждения. |
Окно образца и позиционирование |
XYZ три оси полностью автоматическое позиционирование образца этап, с диапазоном перемещения до 5 см. |
Шаговый двигатель, обеспечивающий точность позиционирования 5 мкм. |
|
Пример изображения |
Двойная конфигурация объектива с 5-кратным широкоугольным объективом для широкоугольного наблюдения и 400-кратным увеличительным объективом для точного микропозиционирования. Включает светодиодное освещение. |
Размер пятна анализа |
Минимальный размер сфокусированного пятна 25 мкм. |
Программное обеспечение LIBS Spectral |
LIBS программное обеспечение для сбора спектральных данных, которое позволяет управлять различными параметрами, включая этап образца, лазер, фокусировку и визуализацию, а также другие настройки и операции управления. |
Основные технические показатели
Модель |
iSpec-LIBS400 |
Диапазон измерения элемента |
Способен анализировать элементы с атомными номерами Z ≥ 1, включая органические элементы, такие как углерод (C), водород (H), кислород (O), и легкие элементы, такие как азот (N), литий (Li), бериллий (Be), бор (B), а также почти все металлы и неметаллы. |
Диапазон концентраций |
От 10 частей на миллион (ppm) до процентных уровней, в зависимости от элемента и конфигурации инструмента. |
Время анализа |
<30С |
Тип анализа |
Как качественный (выявление того, какие элементы присутствуют), так и количественный (определение концентрации каждого элемента) анализ. |
Спектрометр |
Четырехканальный спектрометр с диапазоном длин волн л = 190 -820 нм и разрешение 0,2 нм. |
Восьмиканальный спектрометр с диапазоном длин волн л = 190- 1070нм и разрешение 0,1 нм. |
|
Лазер |
Nd-YAG лазер с вариантами длины волны 266 нм при 50 мДж на импульс или длиной волны 1064 нм при 100-200 мДж на импульс, частотой 10 Гц, шириной импульса 5-10 нс, оснащенный системой водяного охлаждения. |
Окно образца и позиционирование |
XYZ три оси полностью автоматическое позиционирование образца этап, с диапазоном перемещения до 5 см. |
Шаговый двигатель, обеспечивающий точность позиционирования 5 мкм. |
|
Пример изображения |
Двойная конфигурация объектива с 5-кратным широкоугольным объективом для широкоугольного наблюдения и 400-кратным увеличительным объективом для точного микропозиционирования. Включает светодиодное освещение. |
Размер пятна анализа |
Минимальный размер сфокусированного пятна 25 мкм. |
Программное обеспечение LIBS Spectral |
LIBS программное обеспечение для сбора спектральных данных, которое позволяет управлять различными параметрами, включая этап образца, лазер, фокусировку и визуализацию, а также другие настройки и операции управления. |